-
1 Auger-electron microscopy
English-Russian dictionary on nuclear energy > Auger-electron microscopy
-
2 Auger-electron microscopy
Англо-русский словарь технических терминов > Auger-electron microscopy
-
3 Auger electron microscopy
Техника: Оже-электронная микроскопияУниверсальный англо-русский словарь > Auger electron microscopy
-
4 Auger-electron microscopy
Техника: Оже-электронная микроскопияУниверсальный англо-русский словарь > Auger-electron microscopy
-
5 electron microscopy
English-Russian dictionary on nuclear energy > electron microscopy
-
6 scanning electron microscopy
English-Russian big polytechnic dictionary > scanning electron microscopy
-
7 scanning electron microscopy
English-Russian dictionary on nuclear energy > scanning electron microscopy
-
8 microscopy
-
Auger-electron microscopy
-
bright-field microscopy
-
dark-field microscopy
-
electron microscopy
-
emission microscopy
-
field-desorption microscopy
-
field-emission microscopy
-
field-ion microscopy
-
fluorescence microscopy
-
focused-beam microscopy
- high-contrast electron microscopy -
high-resolution electron microscopy
-
holographic microscopy
-
interference contrast microscopy
-
interference microscopy
-
light microscopy
-
nonlinear acoustic microscopy
-
optical microscopy
-
phase contrast microscopy
-
phase microscopy
-
photoelectron microscopy
-
polarized light microscopy
-
reflection microscopy
-
scanning desorption molecule microscopy
-
scanning electron microscopy
-
scanning microscopy
-
thermionic emission microscopy
-
transmission electron microscopy
-
transmission microscopy
-
transmission scanning microscopy
-
ultraviolet microscopy
-
visible light microscopy
-
visible microscopy
-
X-ray microscopy -
9 microscopy
-
10 microscopy
-
11 microscopy
мікроскопія - analytical electron microscopy
- atomic resolution microscopy
- Auger microscopy
- ballistic electron emission microscopy
- high-retolution electron microscopy
- high-resolution transmission electron microscopy
- high-voltage electron microscopy
- optical microscopy
- scanning асoustic microscopy
- scanning Auger microscopy
- scanning electron microscopy SEM
- scanning electron microscopy
- scanning ion microscopy
- scanning probe microscopy SPM
- scanning probe microscopy
- scanning transmission electron microscopy
- scanning tunnel microscopy
- transmission electron microscopy
- weak-beam microscopyEnglish-Ukrainian dictionary of microelectronics > microscopy
-
12 remote microscopy
English-Russian big polytechnic dictionary > remote microscopy
-
13 Оже-электронная микроскопия
Англо-русский словарь технических терминов > Оже-электронная микроскопия
-
14 AEM
1) Военный термин: Air Efficiency Medal, Missile Tender, accelerated evaluation method, advance engineering memorandum, advance evaluation note, air effectiveness measurements2) Техника: Association of Equipment Manufactureres (Ассоциация производителей оборудования), Auger-electron microscopy, acoustical emission monitoring, airborne electromagnetism, analytical electronic microscope3) Сокращение: (type abbreviation) Missile support ship, Applied Electro Mechanics Inc. (USA), Aviation Engineering & Maintenance (UK)4) Электроника: Analytical Electron Microscopy5) Вычислительная техника: Automatic Emulation Management (Brother)7) Космонавтика: animal enclosure module( сокр.) (космический летательный аппарат с животными на борту), applications of explorer mission (сокр.) (применение исследовательского полёта)8) Геофизика: airborne electromagnetic bathymetry (сокр.) (аэроэлектромагнитная батиметрия), airborne electromagnetic method (электромагнитный аэрометод), электромагнитометрия9) Полимеры: этилен-акрилат-каучук, акриловый эластомер10) Программирование: Advertising Expenditure Measurement11) Микроскопия: Auger-electron microscopy( сокр.) (Оже-электронная микроскопия)12) Макаров: аналитическая электронная микроскопия13) Электротехника: advanced energy-management ( system) (сокр.) (прогрессивная система регулирования потребления электроэнергии)15) Единицы измерений: All Equal Metric -
15 AEM
I сокр. [airborne electromagnetic method] электромагнитный аэрометод II сокр. [analytical electronic microscope] аналитический электронный микроскоп III сокр. [Auger-electron microscopy] Оже-электронная микроскопия -
16 AEM
I сокр. от
airborne electromagnetic method II сокр. от analytical electronic microscope III сокр. от Auger-electron microscopy -
17 AEM
1. acoustical emission monitoring - контроль акустических шумов;2. airborne electromagnetics - аэроэлектромагнитометрия;3. airborne electromagnetic method - электромагнитный аэрометод;4. airborne electromagnetism - бортовой электромагнетизм;5. analytical electronic microscope - аналитический электронный микроскоп;6. Auger-electron microscopy - Оже-электронная микроскопия -
18 stem
1. штанга; стержень
* * *
1. штанга; стержень
* * *
штанга, ствол, стержень, шпиндель; ударная штанга при канатном бурении; бурильный инструмент ( долото и колонна бурильных труб)
* * *
2) колонна штанг, бурильная колонна ( при алмазном бурении)3) бурильный инструмент ()4) штанга; стержень; короткая соединительная деталь5) ствол6) шток7) забойка ( скважинного заряда) || производить забойку ( скважины)•- crosshead stem
- drill stem
- drilling stem
- driving stem
- extension stem
- flexible drill stem
- fluted grief stem
- gate-valve stem
- grief stem
- kelly stem
- packer stem
- rising stem
- spiral-winged drill stem
- steel stem
- swivel stem
- valve stem
- welded-in stem* * * -
19 scanning
nCOMP&DP escaneo m, exploración fELECTRON exploración fPETR TECH barrido m, escrutación f, exploración fPHYS exploración fPRINT escaneo mRAD PHYS barrido m, toma de datos fSPACE análisis m, examen minucioso m, exploración fTELECOM barrido mTV exploración f, barrido m, búsqueda f, lectura fWATER TRANSP radar exploración f
См. также в других словарях:
Scanning Electron Microscopy — Microscopie électronique à balayage Pour les articles homonymes, voir MEB, SEM et Microscope. Microscope électronique à balayage JEOL JSM 6340F … Wikipédia en Français
Photoemission electron microscopy — (PEEM, also called photoelectron microscopy, PEM) is a widely used type of emission microscopy. PEEM utilizes local variations in electron emission to generate image contrast. The excitation is usually produced by UV light, synchrotron radiation… … Wikipedia
Électron — Traduction à relire Electron → … Wikipédia en Français
Electron — For other uses, see Electron (disambiguation). Electron Experiments with a Crookes tube first demonstrated the particle nature of electrons. In this illustration, the profile of the cross shaped target is projected against the tube face at right… … Wikipedia
Auger-Effekt — Die Auger Elektronen Spektroskopie (AES, nach Pierre Auger) ist eine spektroskopische Methode, die auf dem Auger Effekt beruht, d. h. auf Analyse von aus einem Festkörper emittierten Elektronen. Inhaltsverzeichnis 1 Auger Effekt 2 Auger… … Deutsch Wikipedia
Auger-Elektron — Die Auger Elektronen Spektroskopie (AES, nach Pierre Auger) ist eine spektroskopische Methode, die auf dem Auger Effekt beruht, d. h. auf Analyse von aus einem Festkörper emittierten Elektronen. Inhaltsverzeichnis 1 Auger Effekt 2 Auger… … Deutsch Wikipedia
Auger-Elektronen-Spektroskopie — Die Auger Elektronen Spektroskopie [oʒe ] (AES, nach Pierre Auger) ist eine spektroskopische Methode, die auf dem Auger Effekt beruht, d. h. auf Analyse von aus einem Festkörper emittierten Elektronen. Inhaltsverzeichnis 1 Auger Effekt 2… … Deutsch Wikipedia
Low-energy electron diffraction — (LEED) is a technique used to characterize the structures of surfaces.History =Davisson and Germer s discovery of electron diffraction= The development of electron diffraction was closely linked to the progress of quantum mechanics and atomic… … Wikipedia
Microscope électronique à balayage — Microscopie électronique à balayage Pour les articles homonymes, voir MEB, SEM et Microscope. Microscope électronique à balayage JEOL JSM 6340F … Wikipédia en Français
Microscopie electronique a balayage — Microscopie électronique à balayage Pour les articles homonymes, voir MEB, SEM et Microscope. Microscope électronique à balayage JEOL JSM 6340F … Wikipédia en Français
Microscopie Électronique À Balayage — Pour les articles homonymes, voir MEB, SEM et Microscope. Microscope électronique à balayage JEOL JSM 6340F … Wikipédia en Français
